ANOVA 方差分析：將因素對質(zhì)量特性的影響與誤差對質(zhì)量特性的影響加以區(qū)分并做出估計，然后進行比較，分析、推斷哪些因素或哪些因素間的交互作用對質(zhì)量特性有顯著影響。
Attribute Data 計數(shù)數(shù)據(jù)：通過計數(shù)得到的不能連續(xù)取值的離散型數(shù)據(jù)。
Benchmarking 水平對比：將過程、產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量同公認的處于領(lǐng)先地位的競爭者進行比較，從而找到改進機會或確定突破目標。
Bottom Line 底線：賬面上的利潤，是產(chǎn)品/服務(wù)的銷售成本和費用的函數(shù)。
Box-plot 箱線圖：同時展示每個子群分布特征的5個統(tǒng)計量的坐標圖。
Business Culture 企業(yè)文化：區(qū)別于其他組織的價值、觀點、期望、準則和行為。
Cause-Effect Diagram 因果圖：也稱“石川圖”、“魚刺圖”，是揭示質(zhì)量特性波動與潛在原因的關(guān)系，即表達和分析因果關(guān)系的一種圖表。
Continuous Data 計量數(shù)據(jù)：通過測量得到的可任意取值的連續(xù)型數(shù)據(jù)。
Continuous Improvement 持續(xù)改進：逐步的、永無止境的不斷改進循環(huán)。
Control Chart控制圖：以統(tǒng)計推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計控制限，按時間坐標顯示獨立測量值、平均值或其他統(tǒng)計值的折線圖。
COPQ（Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ（Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：滿足關(guān)鍵的顧客要求或過程要求的產(chǎn)品或過程特性。
Defect 缺陷：不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE（Design of Experiment）試驗設(shè)計：析因?qū)嶒灪拖鄳?yīng)的改進方法。
FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：用來分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過程由于失效導(dǎo)致風險的方法。
Histogram 直方圖：用寬度相同的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖形工具。Multi-Vari Chart 多變量圖：直觀地提供過程各影響因素之間的關(guān)系以及它們對過程輸出影響的坐標圖。
Pareto Chart 排列圖：也稱帕累托圖，由一個橫坐標、兩個縱坐標、幾個按高低順序排列的矩形和一條累積百分比折線組成的分析圖表。
p-Value p值：偏離零假設(shè)的概率，是可能拒絕原假設(shè)而接受備擇假設(shè)的顯著性水平。
Regression Analysis 回歸分析：變量間關(guān)系的分析方法。
Run Chart 運行圖：按時間坐標顯示統(tǒng)計量的折線圖。
QFD（Quality Function Deployment）質(zhì)量功能展開：將顧客的語言轉(zhuǎn)換為企業(yè)內(nèi)部技術(shù)術(shù)語的工具。
Scatter Plot 散布圖：研究兩變量間相關(guān)性的圖形工具。
SPC（Statistical Process Control） 統(tǒng)計過程控制：用控制圖監(jiān)控和改進過程的方法。
Top Line 頂線：真實表達顧客對企業(yè)滿意的收入。
Z西格瑪水平：描述過程滿足顧客要求能力的參數(shù)。
Zst （Z Short Term） 短期西格瑪水平/過程短期能力。
Zlt （Z Long Term） 長期西格瑪水平/過程長期業(yè)績。
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